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camychen 2022-12-27
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SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法 1F
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SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法 1F
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SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法 1F
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SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 1F
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SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 1F
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SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11485-2015 LED型号命名规则 1F
camychen 2022-12-27
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SJ/T 11484-2015 掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃 1F
camychen 2022-12-27
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