本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。
标准编号：SJ/T 11488-2015
标准名称：半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
英文名称：Test method for measuring resistivity hall coefficient and determining hall mobility in semi-insulating GaAs single crystals
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准状态：现行
起草单位：信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司、天津中环领先材料技术有限公司
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：3.27MB
发表于 2022-12-27 10:53:50
