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SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

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camychen

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发表于 2022-12-27 10:58:20 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶的结晶类型的方法。
标准编号：SJ/T 11501-2015
标准名称：碳化硅单晶晶型的测试方法
英文名称：Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：1.49MB

标准全文下载：
SJT 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法.pdf (1.49 MB)

文档首页截图如下：
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