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T/ZJBDT 002-2024 环境光传感器芯片参数测试方法

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发表于 2024-9-21 00:12:51 | 显示全部楼层 |阅读模式
本文件描述了环境光传感器芯片的开路_短路测试、输入漏电测试、IIC_读写测试、输入输出高低电平测试、Efuse 判断测试、基准频率测试、功耗测试、暗光校准测试、Efuse 烧写测试、基准频率检查测试、暗光校准检查测试、固定光强校准检查测试等测试方法。
本文件适用于环境光传感器芯片参数测试。
标准编号：T/ZJBDT 002-2024
标准名称：环境光传感器芯片参数测试方法
发布部门：浙江省半导体行业协会
发布日期：2024-08-14
实施日期：2024-08-14
标准状态：现行
文件格式：PDF
文件页数：13页
文件大小：351.69KB

标准全文下载：
TZJBDT 002-2024 环境光传感器芯片参数测试方法.pdf (351.69 KB)

文档首页截图如下：
T_ZJBDT
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