标准编号：GB/T 24576-2009
标准名称：高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
英文名称：Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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