标准编号：ASTM E2245-2005
标准名称：用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
英文名称：Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
发布部门：
发布日期：
实施日期：
标准状态：现行
文件格式：PDF
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