标准编号:ASTM E2245-2011
标准名称:利用光学干涉仪测量反射膜残余应变的标准试验方法
英文名称:Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin,Reflecting Films Using an Optical Interferometer
发布部门:美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期:
实施日期:2011-01-01
标准状态:现行
文件格式:PDF
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