标准编号：ASTM E2244-2011e1
标准名称：采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
英文名称：Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin,Reflecting Films Using an Optical Interferometer
发布部门：美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期：
实施日期：2011-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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