标准编号：GB/T 36474-2018
标准名称：半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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