标准编号：GB/T 35007-2018
标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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