GB/T 35007-2018 半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法

大尾 · 发表于 2023-1-10 11:12:45

本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS，low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
标准编号：GB/T 35007-2018
标准名称：半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
标准状态：现行
起草单位：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所
起草人员：陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科
文件格式：PDF
文件页数：36页
文件大小：625.44KB

标准全文下载：

GBT 35007-2018.pdf (625.44 KB)

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GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

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