标准编号：GB/T 32495-2016
标准名称：表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
英文名称：Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
发布日期：2016-02-24
实施日期：2017-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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