标准编号：DIN EN 60749-30-2005
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面...
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005); German version EN 60749-30:2005
发布部门：
发布日期：2005-06-01
实施日期：2005-06-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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