标准编号：GB/T 26067-2010
标准名称：硅片切口尺寸测试方法
英文名称：Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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标准编号：GB/T 26067-2010
标准名称：硅片切口尺寸测试方法
英文名称：Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
标准状态：现行
文件格式：PDF