标准编号：GB/T 24582-2009
标准名称：酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
英文名称：Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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