标准编号：EN 62374-2007
标准名称：半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
英文名称：Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007
发布部门：欧洲标准化委员会(CEN)
发布日期：
实施日期：2008-02-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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