标准编号：EN 60749-30-2011
标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011); German version EN 60749-30:2005 + A1:2011
发布部门：欧洲标准化委员会(CEN)
发布日期：
实施日期：2011-12-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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