标准编号：EN 60749-29-2011
标准名称：半导体设备.机械及气候试验方法.第29部分:封闭试验(IEC 60749-29-2011).德文版 EN 60749-29-2011
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011); German version EN 60749-29:2011
发布部门：欧洲标准化委员会(CEN)
发布日期：
实施日期：2012-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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