标准编号：ASTM F1192-2011
标准名称：半导体装置重离子辐照导致的单粒子效应现象(SEP)测量的标准指南
英文名称：Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
发布部门：美国材料与试验协会(ASTM)
发布日期：
实施日期：2011-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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