标准编号：T/IAWBS 015-2021
标准名称：氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
英文名称：Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of Ga2O3 single crystal substrate
发布部门：中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
发布日期：2021-09-15
实施日期：2021-09-22
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。