标准编号:SJ/T 11491-2015
标准名称:短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
英文名称:Test methods for measurement of interstitial oxygen content in silicon by short baseline infrared absorption spectrometry
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2015-04-30
实施日期:2015-10-01
标准状态:现行
文件格式:PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们,我们将及时删除相关资源。