标准编号：EJ/T 1184-2005
标准名称：贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
英文名称：Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotomentric method
发布部门：国防科学技术工业委员会
发布日期：2005-04-11
实施日期：2005-07-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们，我们将及时删除相关资源。