标准编号：EJ/T 1184-2005
标准名称：贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
英文名称：Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotomentric method
发布部门：国防科学技术工业委员会
发布日期：2005-04-11
实施日期：2005-07-01
起草单位：国营八一四厂
文件格式：PDF
文件页数：5页
文件大小：202.19KB
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