标准编号：GB/T 15651.3-2003
标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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