GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法

WJH · 发表于 2022-11-29 11:29:12

本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。
标准编号：GB/T 15651.3-2003
标准名称：半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法
英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
标准状态：现行
起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂
起草人员：陈兰、那仁、王守华
文件格式：PDF
文件页数：26页
文件大小：8.79MB

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GBT 15651.3-2003.pdf (8.79 MB)

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GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法