标准编号：YS/T 1160-2016
标准名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
英文名称：Silicon powder-quantitative phase analysis- Determination of silicon dioxide content-Value K method of X-ray diffraction
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
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