YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

lhw · 发表于 2023-1-1 13:59:05

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围：≥1%。
标准编号：YS/T 1160-2016
标准名称：工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
英文名称：Silicon powder-quantitative phase analysis- Determination of silicon dioxide content-Value K method of X-ray diffraction
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
标准状态：现行
起草单位：昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司
起草人员：李和平、胡耀东、袁威、金自钦、高珺、杨林、张晶、王书明、李扬、王钟颖、王建波
文件格式：PDF
文件页数：7页
文件大小：246.57KB

标准全文下载：

YST 1160-2016.pdf (246.57 KB)

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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法