SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法第2部分：正向电压

camychen · 发表于 2022-12-29 11:11:27

规定了半导体红外发射二极管正向电压的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
标准编号：SJ/T 2658.2-2015
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法第2部分：正向电压
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 2:Forward voltage
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
标准状态：现行
替代情况：替代SJ/T 2658.2-1986
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
文件格式：PDF
文件页数：5页
文件大小：2.62MB

标准全文下载：

SJT 2658.2-2015.pdf (2.62 MB)

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