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SJ/T 10754-2015 电子器件用金、银及其合金钎料分析方法 清洁性、溅散性的测定

camychen
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电子行业标准(SJ) 246 0 2022-12-29 10:56:25
本标准规定了电子器件用金、银及其合金钎料清洁性、溅散性测定方法。
标准编号:SJ/T 10754-2015
标准名称:电子器件用金、银及其合金钎料分析方法 清洁性、溅散性的测定
英文名称:Test methods for gold, silver and their alloy brazing for electron device Determination of cleanness, spatter
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2015-10-10
实施日期:2016-04-01
替代情况:替代SJ/T 10755-1996,SJ/T 10754-1996
起草单位:信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电科第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院
文件格式:PDF
文件页数:5页
文件大小:3.79MB

标准全文下载:
上传的附件: SJT 10754-2015.pdf (3.79 MB)


文档首页截图如下:
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