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标准的主要内容包括光电耦合器正向压降(二极管）、正向电流（二极管）、反向电流（二极管）、反向击穿电压（二极管）等25个参数的术语和定义、测试原理、测试步骤、测试条件。
标准编号：SJ/T 2215-2015
标准名称：半导体光电耦合器测试方法
英文名称：Measuring methods for semiconductor photocouplers
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准状态：现行
替代情况：替代SJ 2215.1-1982,SJ/T 2215.2-1982,SJ 2215.3-1982,SJ 2215.4-1982,SJ 2215.5-1982,SJ 2215.6-1982,SJ 2215.7-1982,SJ 2215.8-1982,SJ 2215.9-1982,SJ 2215.10-1982,SJ 2215.11-1982,SJ 2215.12-1982,SJ 2215.13-1982
起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所
文件格式：PDF
文件页数：34页
文件大小：7.72MB
标准全文下载：
SJT 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法.pdf
(7.72 MB)
文档首页截图如下：
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发表于 2022-12-27 11:12:03