标准的主要内容包括半导体光敏管的正向压降暗电流等参数的术语和定义测试原理测试步骤测试条件。
标准编号：SJ/T 2214-2015
标准名称：半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
英文名称：Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准状态：现行
替代情况：替代SJ 2214.1-1982,SJ 2214.2-1982,SJ 2214.3-1982,SJ 2214.4-1982,SJ 2214.5-1982,SJ 2214.6-1982,SJ 2214.7-1982,SJ 2214.8-1982,SJ 2214.9-1982,SJ 2214.10-1982
起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所
文件格式：PDF
文件页数：24页
文件大小：7.25MB
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发表于 2022-12-27 11:11:43