本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量，分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下，本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
标准编号：GB/T 30869-2014
标准名称：太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
英文名称：Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
发布日期：2014-07-24
实施日期：2015-02-01
标准状态：现行
起草单位：东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司
起草人员：何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓
文件格式：PDF
文件页数：7页
文件大小：281.74KB
发表于 2022-12-24 10:02:43
