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SJ/T 10015-2013 10kHz~200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值

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发表于 2022-12-20 13:24:06 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了频率控制和选择用10kHz~200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值。
标准编号:SJ/T 10015-2013
标准名称:10kHz~200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值
英文名称:Measurement and test methods for tuning fork quartz crystal units in the range from 10 kHz to 200kHz and standard values
发布部门:工业和信息化部
发布日期:2013-10-17
实施日期:2013-12-01
标准状态:现行
替代情况:替代SJ/T 10015-1991
起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、湖北泰晶电子科技有限公司
文件格式:PDF
文件页数:14页
文件大小:3.06MB

标准全文下载:
SJT 10015-2013.pdf (3.06 MB)

文档首页截图如下:
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