本标准规定了安全能力依次递增的三个安全等级，以及适用于各安全等级安全芯片的密码检测要求。
本标准适用于安全芯片的密码检测，亦可指导安全芯片的研制。
标准编号：GM/T 0008-2012
标准名称：安全芯片密码检测准则
英文名称：Cryptography test criteria for security IC
发布部门：国家密码管理局
发布日期：2012-11-22
实施日期：2012-11-22
起草单位：国家密码管理局商用密码检测中心、信息安全国家重点实验室、清华大学、北京宏思电子技术有限责任公司、国民技术股份有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、浙江大学、中国科学院深圳先进技术研究院、大唐微电子技术有限公司、北京芯光天地集成电路设计有限公司、成都信息工程学院
起草人员：李大为、周永彬、罗鹏、刘继业、张建人、张文婧、张翌维、陈立志、叶茵、沈海斌、李慧云、孙东昱、熊燕萍、刘宏伟、陈运、吴震、毛颖颖
文件格式：PDF
文件页数：22页
文件大小：340.68KB
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