本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求，包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。
本标准适用于通信用光电子器件，包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块。其它领域的光电子器件也可
标准编号：YD/T 2342-2011
标准名称：通信用光电子器件可靠性试验方法
英文名称：Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2011-12-20
实施日期：2012-02-01
起草单位：武汉邮电科学研究院、中兴通讯股份有限公司、深圳新飞通光电子技术有限公司
文件格式：PDF
文件页数：36页
文件大小：10.13MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(qbw86@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
