GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法

xuzhou2163 · 发表于 2022-11-24 11:26:38

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。
标准编号：GB/T 5594.5-1985
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity
发布部门：国家标准局
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
标准状态：现行
起草单位：南京电子管厂
起草人员：王明珍、赵小伟
文件格式：PDF
文件页数：5页
文件大小：171.65KB

标准全文下载：

GBT 5594.5-1985.pdf (171.65 KB)

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GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法