本文件描述了宇航用电子元器件单粒子烧毁的试验方法,包括一般要求、试验分类和目标、试验样品、辐照源、试验系统、试验要求、试验流程、试验准备、试验步骤、数据处理和试验文件等。
本文件适用于功率金属氧化物半导体场效晶体管、绝缘栅双极晶体管、高电子迁移率晶体管、双极型功率晶体管、功率二极管等宇航用电子元器件单粒子烧毁的地面模拟试验。
标准编号：GB/T 47857-2026
标准名称：空间环境 宇航用电子元器件单粒子烧毁试验方法
英文名称：Space environment—Test method of single event burn-out for aerospace electronic components
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2026-07-02
实施日期：2026-11-01
起草单位：中国科学院国家空间科学中心、北京卫星环境工程研究所、中国空间技术研究院、西安电子科技大学、中国科学院微电子研究所、哈尔滨工业大学、中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））、湖南融创微电子股份有限公司、西安龙飞电气技术有限公司
起草人员：马英起、沈自才、梁亚楠、王英豪、于庆奎、季启政、郑雪峰、王天琦、张欣、李昌宏、马腾、刘祥远、张园园、康玄武、刘新宇
文件格式：PDF
文件页数：23页
文件大小：671.15 KB
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