本文件描述了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下利用大电流注入(BCI)法测量集成电路(IC)抗扰度的试验方法,例如,由辐射RF骚扰引起的传导RF 骚扰。这种方法仅用于有板外连线的IC,例如连接到电缆束。
本试验方法把RF电流注入到一根或一组线缆。
本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。
标准编号：GB/T 42968.3-2025
标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3: Bulk current injection (BCI) method
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-12-02
实施日期：2025-12-02
文件格式：PDF
文件页数：20页
文件大小：1.01MB
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