YD/T 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法

显示全部楼层 · 发表于 2025-4-13 00:03:20

本文件规定了安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法，包括安全芯片非入侵式攻击缓解的测试要求、测试准备、测试方法与量化指标、以及特殊情况说明等。
本文件适用于指导安全芯片的非入侵式攻击缓解测试，从攻击与测试两个角度为厂商提供安全芯片的设计参考
标准编号：YD/T 6305-2024
标准名称：安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2024-12-10
实施日期：2025-04-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
文件页数：16页
文件大小：4.43MB

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YDT 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法.pdf (4.43 MB)

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