GB/T 44937.4-2024 集成电路电磁发射测量第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法

显示全部楼层 · 发表于 2025-2-12 09:50:47

本文件规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150 Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。
标准编号：GB/T 44937.4-2024
标准名称：集成电路电磁发射测量第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法
英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4: Measurement of conducted emissions—1Ω/150Ω direct coupling method
发布部门：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布日期：2024-12-31
实施日期：2024-12-31
标准状态：现行
起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、南京容测检测技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、北京无线电计量测试研究所、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国科学院微电子研究所、安徽省计量科学研究院、苏州泰思特电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、江苏省计量科学研究院、扬芯科技（深圳）有限公司、南京师范大学、东南大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、广州致远电子有限公司
起草人员：崔强、付君、乔彦彬、方文啸、吴建飞、邢立文、朱赛、刘星汛、李腾飞、李彬鸿、王少启、谢玉章、胡小军、黄雪梅、邵鄂、李楠、周雷、杨红波、颜伟、周香、刘洋、陈勇志、张红丽
文件格式：PDF
文件页数：38页
文件大小：15.04MB

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