GB/T 44075-2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法

显示全部楼层 · 发表于 2024-7-25 00:03:49

本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。
标准编号：GB/T 44075-2024
标准名称：纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法
英文名称：Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
发布部门：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布日期：2024-05-28
实施日期：2024-12-01
标准状态：现行/即将实施
起草单位：苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
起草人员：郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震
文件格式：PDF
文件页数：16页
文件大小：2.23MB

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GBT 44075-2024.pdf (2.23 MB)

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GB/T 44075-2024 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

GB/T 44075-2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法