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GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

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圣贤

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发表于 2022-12-4 10:17:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。
本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。
标准编号:GB/T 17473.2-2008
标准名称:微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
英文名称:Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of fineness
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期:2008-03-31
实施日期:2008-09-01
标准状态:现行
替代情况:替代GB/T 17473.2-1998
起草单位:贵研铂业股份有限公司
起草人员:武新荣、罗云、陈伏生、李文琳、马晓峰、朱武勋、李晋
文件格式:PDF
文件页数:4页
文件大小:1.25MB

标准全文下载:
GBT 17473.2-2008.pdf (1.25 MB)

文档首页截图如下:
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