HB 6742-2020 单晶叶片晶体取向的X 射线背射劳厄照相测定方法

zhouqi2469 · 发表于 2023-11-28 18:57:17

本标准规定了采用X 射线背射劳厄照相法测定单晶叶片晶体取向的人员、仪器设备、试件准备、试验步骤、安全与防护及试验报告等内容。
本标准适用于铸造镍基高温合金单晶叶片晶体取向的测定，其他单晶铸件、柱状晶及晶粒直径大于1mm 材料的晶体取向的测定可参照使用。
标准编号：HB 6742-2020
标准名称：单晶叶片晶体取向的X 射线背射劳厄照相测定方法
英文名称：Method for determining the orientation of the single crystal blades by X-ray back-reflection laue method
发布部门：国家国防科技工业局
发布日期：2020-06-04
实施日期：2020-08-01
标准状态：现行
起草单位：中国航发北京航空材料研究院、中国航发沈阳黎明航空发动机有限责任公司、中国航发南方工业有限公司
起草人员：曲士昱、刘昌奎、喻健、张银东、郭占兵、范映伟
文件格式：PDF
文件页数：10页
文件大小：743.43KB

标准全文下载：

HB 6742-2020.pdf (743.43 KB)

文档首页截图如下：

		自动登录	找回密码
密码			立即注册

HB 6742-2020 单晶叶片晶体取向的X 射线背射劳厄照相测定方法

浏览过的版块