本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。
本文件适用于测定晶粒内不高于1×10ˇ15mˇ-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
标准编号：GB/T 43088-2023
标准名称：微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-04-01
起草单位：首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司
起草人员：孟杨、鞠新华、朱国森、付新、马通达、崔桂彬、史学星、闫贺、王泽鹏、王雅晴、严春莲
文件格式：PDF
文件页数：25页
文件大小：4.42MB
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