本规范适用于采用标准样片法实现数字集成电路测试系统（以下简称测试系统）的校准。
标准编号：JJF(鄂) 102-2023
标准名称：数字集成电路测试系统(标准样片法)校准规范
英文名称：Calibration Specification for Digital Integrated CircuitTest System（Reference Chips Method）
发布部门：湖北省市场监督管理局
发布日期：2023-07-18
实施日期：2023-08-20
文件格式：PDF
文件页数：27页
文件大小：1.70MB
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