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本标准规定了半导体管特性图示仪校准仪(以下简称“校准仪”)的术语和定义、技术要求和测量方法。
本标准适用于直流电压源输出范围不超过0.01V~5000V直流电流源输出范围不超过10 nA~10A,取样电阻标称范围不超过0.005Ω~10MΩ,阶梯电压归一化变换范围不超过0.1V~20V,阶梯电流归一化变换范围不超过10μA~20A,阶梯电压表测量范围不超过0.01V/阶~10V/阶,阶梯电流表测量范围不超过 0.1 μA/阶~10A/阶,脉冲电流表测量范围不超过10A~1000 A 的校准仪。
标准编号:SJ/T 11777-2021
标准名称:半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
英文名称:Technology requirements and test methods for curve tracers calibrators
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2021-03-05
实施日期:2021-06-01
标准状态:现行
起草单位:中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司
文件格式:PDF
文件页数:13页
文件大小:5.26MB
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SJT 11777-2021.pdf
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