T/SZBSIA 007-2022 IC类半导体固晶机检测规范

841378236yy · 发表于 2023-2-16 09:13:51

本文件规定了半导体固晶机的术语和定义、结构与基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、使用说明书与标志、包装、运输和储存。
本文件适用于IC类半导体固晶机。
标准编号：T/SZBSIA 007-2022
标准名称：IC类半导体固晶机检测规范
英文名称：Semiconductor die bonder test specification
发布部门：深圳市宝安区半导体行业协会
发布日期：2022-09-23
实施日期：2022-09-24
标准状态：现行
起草单位：深圳新益昌科技股份有限公司、深圳市宝安区半导体行业协会、深圳市洲明科技股份有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司广州分公司、深圳雷曼光电科技股份有限公司、深圳市锐骏半导体股份有限公司、深圳市聚飞光电股份有限公司、深圳市秀武电子有限公司、深圳市信展通电子股份有限公司、深圳市宝安区集成电路产业技术创新联盟、深圳市时创意电子有限公司、深圳清华大学研究院、深圳市路远智能装备有限公司、深圳市振华兴科技有限公司、深圳市晶凯电子技术有限公司、深圳绘王趋势科技股份有限公司、深圳市三联盛科技股份有限公司
起草人员：彭顺安、刘慧、于江情、郑文杰、曾晓明、王跃飞、余亮、黄泽军、孙平如、赵越、施锦源、马保峰、刘岩、敬刚、贾孝荣、廖怀宝、刘纪文、王周宏、张莹、朱文锋
文件格式：PDF
文件页数：18页
文件大小：364.55KB

标准全文下载：

TSZBSIA 007-2022 IC类半导体固晶机检测规范.pdf (364.55 KB)

文档首页截图如下：

		自动登录	找回密码
密码			立即注册

T/SZBSIA 007-2022 IC类半导体固晶机检测规范

相关帖子

浏览过的版块