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T/GVS 007-2022 射频电源动态阻抗测试方法

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发表于 2023-2-14 21:32:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
本文件规定了射频电源动态阻抗测试方法的术语和定义、原理、测试环境条件、仪器设备、测试方法、测试报告。本文件适用于半导体刻蚀、薄膜沉积等应用场合中,输出频率0.2 MHz~100 MHz的射频电源动态阻抗测试。
标准编号:T/GVS 007-2022
标准名称:射频电源动态阻抗测试方法
英文名称:Test method for dynamic impedance of RF generator
发布部门:广东省真空学会
发布日期:2022-07-11
实施日期:2022-07-11
标准状态:现行
起草单位:深圳市恒运昌真空技术有限公司、广东工业大学、大连理工大学、拓荆科技股份有限公司
起草人员:乐卫平、林伟群、姚志毅、唐亚海、林桂浩、黄永镇、刘涛、张桂东、张赛谦、郭冬、高飞
文件格式:PDF
文件页数:19页
文件大小:1.20MB

标准全文下载:
TGVS 007-2022 射频电源动态阻抗测试方法.pdf (1.2 MB)

文档首页截图如下:
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