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T/ZACA 041-2022 混合信号半导体器件测试设备

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童生

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发表于 2023-2-14 14:12:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备。
标准编号:T/ZACA 041-2022
标准名称:混合信号半导体器件测试设备
英文名称:Mixed signal semiconductor device test equipment
发布部门:浙江省质量合格评定协会
发布日期:2022-06-28
实施日期:2022-07-01
标准状态:现行
起草单位:杭州加速科技有限公司,通富微电子股份有限公司、华天科技(西安)有限公司、长三角集成电路工业应用技术创新中心、矽力杰半导体技术(杭州)有限公司、北京集创北方科技股份有限公司
起草人员:陈永、凌云、邬刚、王瑞金、翁正林
文件格式:PDF
文件页数:22页
文件大小:1.99MB

标准全文下载:
TZACA 041-2022 混合信号半导体器件测试设备.pdf (1.99 MB)

文档首页截图如下:
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