QB/T 1135-2006 首饰金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

口罩xi · 发表于 2022-12-1 17:14:26

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。
本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定（覆盖层与基体为非相同材质）。
标准编号：QB/T 1135-2006
标准名称：首饰金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
英文名称：Jewellery-Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods
发布部门：中华人民共和国国家发展和改革委员会
发布日期：2006-08-19
实施日期：2006-12-01
标准状态：现行
替代情况：替代QB/T 1135-1991
起草单位：国家首饰质量监督检验中心
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：1.74MB

标准全文下载：

QBT 1135-2006.pdf (1.74 MB)

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QB/T 1135-2006 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法

QB/T 1135-2006 首饰金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法